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2. Lehrgang "Transmissionselektronenmikroskopie - Grundlagen & Anwendungen"

Termin: Montag, 08. Oktober – Freitag, 12. Oktober 2012

Anmeldeschluss: 15.09.2012
 

Zielgruppe:

Wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Industrie, Großforschungs­einrichtungen, Hochschulen oder Behörden, die Kenntnisse und Erfahrungen über Probenpräparation sowie Grundlagen und Anwendungen der abbildenden und analytischen Transmissionselektronenmikroskopie erwerben wollen.

 

Inhalt:        

Inhalt des Lehrganges sind grundlagen- und methodisch orientierte Vorträge in Kombination mit praktischen Anwendungen am Transmissionselektronenmikroskop. Themen des Lehrganges sind (i) Grundlagen und Anwendungen der abbildenden TEM, (ii) Probenpräparation (konventionell, focused-ion beam Präparation, Präparation von biologischen Objekten), (iii) Elektronenbeugung, (iv) analytische Elektronenmikroskopie (energiedispersive Röntgenspektroskopie). Die in den Vorträgen behandelten Themen werden in ergänzenden praktischen Übungen am Transmissionselektonenmikroskop vertieft. Schwerpunkte hierbei sind Gerätejustierung, die Optimierung der Abbildungsbedingungen sowie die Auswertung von Elektronenbeugungsbildern. Praktische Beispiele der hochauflösenden Abbildung von kristallinen Objekten in der Festkörper- und Materialforschung sowie der analytischen Elektronenmikroskopie mittels energiedispersiver Röntgenanalyse werden ergänzend behandelt.

 

Ort:

Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Engesserstraße 7, Geb.30.22 (Physik Flachbau)
76131 Karlsruhe

 

Kontakt: