Die Vorlesung Elektronenmikroskopie I befasst sich mit grundlegenden Wechselwirkungen zwischen Festkörper und Elektronen und dem Ausnutzen dieser Wechselwirkungen zur Strukturanalyse mit der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM).
Termin
Die Vorlesung Elektronenmikroskopie I findet aktuell im SS 2019 statt!
Prüfungsrelevanz
Master: Die Vorlesungen Elektronenmikroskopie I und II mit den dazugehörenden praktischen Übungen können im Masterstudium für Physik für die Fächer "Nanophysik" und "Festkörperphysik" gewählt werden. Studierende anderer Fachrichtungen erkundigen sich bitte in der Vorlesung.
Praktikumsanmeldung
Die Online-Anmeldung zum vorlesungsbegleitenden Praktikum finden Sie hier: Praktikums-Anmeldung
Skript-Download
Hier finden Sie die Vorlesungsskripte als pdf zum Download. Bitte verwenden Sie das in der Vorlesung genannte Passwort.
deutsche Vorlesungsunterlagen
|
|
|
|
|
|
|
|
|
englische Vorlesungsunterlagen
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Inhaltsangabe
- Von der Lichtmikroskopie zur Elektronenmikroskopie
- Praktische Aspekte der Transmissionselektronenmikroskopie
- Elektronenbeugung im Festkörper
- Kontrastentstehung und praktische Beispiele der Abbildung von kristallinen Objekten in der Festkörper- und Materialforschung
- Dynamische Elektronenbeugung
- Abbildung des Kristallgitters/Hochauflösende Elektronenmikroskopie
- Elektronenholographie
Praktische Übungen
Mit der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) können Untersuchungen der Struktur im Probeninneren durchgeführt werden. Mit konventionellen Abbildungstechniken lassen sich Objekte in der Größenordnung von 1 nm auflösen. In der hochauflösenden TEM wird mit Geräten der neuesten Generation ein Auflösungsvermögen von besser als 0.1 nm erreicht. Voraussetzung ist die Präparation dünner, elektronentransparenter Proben. Die maximaldurchstrahlbare Probendicke liegt in der Größenordnung von 1000 nm.
Die TEM kann in Kombination mit der energiedispersiven Röntgenanalyse, Elektronenenergie-Verlustspektroskopie und elektronenspezifischen Abbildungen zur Lösung folgender Fragestellungen eingesetzt werden:
- Charakterisierung von Defekten (Versetzungen, Stapelfehler), Bestimmung der Verteilung und Dichte der Defekte
- Verteilung und Größe von Ausscheidungen, Partikeln und Hohlräumen bis herab zu Größen von wenigen Nanometern
- Analyse unterschiedlicher Phasen, Darstellung der Verteilung unterschiedlicher Elemente
- Morphologie, Dicke und Grenzflächeneigenschaften von dünnen Schichten
In der Übung werden 4 Versuche angeboten, die die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) abdecken, bzw. den Stoff der Vorlesung in der Praxis behandeln.
1. Versuch: Grundlegende Abbildungsmoden der Transmissionselektronenmikroskopie I
2. Versuch: Grundlegende Abbildungsmoden der Transmissionselektronenmikroskopie II
3. Versuch: Konvergente Elektronenbeugung der Transmissionselektronenmikroskopie
4. Versuch: Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie, digitale Bildverarbeitung und Bildsimulation
Näheres zum Ablauf der praktischen Übung erfahren Sie in der Vorlesung.
Vorbereitungsmappen-Download
Hier finden Sie die Vorbereitungsmappen für die Praktikumsversuche als pdf zum Download. Bitte verwenden Sie das in der Vorlesung genannte Passwort.
|
|
|
|
Literatur zu Versuch 2
TEM Grundlagen II Versuchsanleitung
Alexander
Edington
WilliamsCarte
