Elektronenmikroskopie I

Die Vorlesung Elektronenmikroskopie I befasst sich mit grundlegenden Wechselwirkungen zwischen Festkörper und Elektronen und dem Ausnutzen dieser Wechselwirkungen zur Strukturanalyse mit der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM).

Termin

Die Vorlesung Elektronenmikroskopie I findet im SS 2017 statt!

Prüfungsrelevanz

Master: Durch die Teilnahme an den Vorlesungen Elektronenmikroskopie I und II samt der dazugehörenden praktischen Übungen und der Vorlesung Elektronenoptik kann das Ergänzungsfach Elektronenmikroskopie (14 ECTS) belegt werden.

Praktikumsanmeldung

Die Online-Anmeldung zum vorlesungsbegleitenden Praktikum finden Sie hier: Praktikums-Anmeldung

Skript-Download

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deutsche Vorlesungsunterlagen

Vorlesung 1	Vorlesung 2	Vorlesung 3	Vorlesung 4
Vorlesung 5	Vorlesung 6	Vorlesung 7	Vorlesung 8
Vorlesung 9	Vorlesung 10	Vorlesung 11	Vorlesung 12
Vorlesung 13	Vorlesung 14	Vorlesung 15

englische Vorlesungsunterlagen

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Inhaltsangabe

Von der Lichtmikroskopie zur Elektronenmikroskopie
Praktische Aspekte der Transmissionselektronenmikroskopie
Elektronenbeugung im Festkörper
Kontrastentstehung und praktische Beispiele der Abbildung von kristallinen Objekten in der Festkörper- und Materialforschung
Dynamische Elektronenbeugung
Abbildung des Kristallgitters/Hochauflösende Elektronenmikroskopie
Elektronenholographie

Praktische Übungen

Mit der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) können Untersuchungen der Struktur im Probeninneren durchgeführt werden. Mit konventionellen Abbildungstechniken lassen sich Objekte in der Größenordnung von 1 nm auflösen. In der hochauflösenden TEM wird mit Geräten der neuesten Generation ein Auflösungsvermögen von besser als 0.1 nm erreicht. Voraussetzung ist die Präparation dünner, elektronentransparenter Proben. Die maximaldurchstrahlbare Probendicke liegt in der Größenordnung von 1000 nm.

Die TEM kann in Kombination mit der energiedispersiven Röntgenanalyse, Elektronenenergie-Verlustspektroskopie und elektronenspezifischen Abbildungen zur Lösung folgender Fragestellungen eingesetzt werden:

Charakterisierung von Defekten (Versetzungen, Stapelfehler), Bestimmung der Verteilung und Dichte der Defekte
Verteilung und Größe von Ausscheidungen, Partikeln und Hohlräumen bis herab zu Größen von wenigen Nanometern
Analyse unterschiedlicher Phasen, Darstellung der Verteilung unterschiedlicher Elemente
Morphologie, Dicke und Grenzflächeneigenschaften von dünnen Schichten

In der Übung werden 4 Versuche angeboten, die die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) abdecken, bzw. den Stoff der Vorlesung in der Praxis behandeln.

1. Versuch: Grundlegende Abbildungsmoden der Transmissionselektronenmikroskopie I
2. Versuch: Grundlegende Abbildungsmoden der Transmissionselektronenmikroskopie II
3. Versuch: Konvergente Elektronenbeugung der Transmissionselektronenmikroskopie
4. Versuch: Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie, digitale Bildverarbeitung und Bildsimulation

Näheres zum Ablauf der praktischen Übung erfahren Sie in der Vorlesung.