Antrag auf Serviceleistungen
Hier können seine einen Antrag auf Rasterelektronenmikroskopie, Transmissionselektronenmikroskopie oder Focused-Ion-Beam (FIB) Mikroskopie und Nanostrukturierung Serviceleistungen stellen.
Bitte wählen Sie aus ob es sich um einen Antrag für elektronenmikroskopische Service-Untersuchungen am Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) für externe Auftraggeber oder Institute des KIT handelt.